DLOG STDF 직접 편집 · 데이터 복구 완벽 가이드
헤더 수정 · Bin/판정 정정 · Bulk Edit · Quick Fix · 손상 복구

1. STDF 직접 편집의 필요성과 안전 아키텍처

반도체 제조 양산 및 평가 현장에서 STDF(Standard Test Data Format)는 테스터 하드웨어가 쏟아내는 바이너리 원시 로그입니다. 작업자가 로트 번호나 테스트 프로그램을 오기입하여 MES/EDC 전송이 거부되거나, 프로버 셋업 실수로 노치 방향과 X/Y 축이 반대로 기록되거나, 릴레이 지연으로 특정 파트의 Bin 분류가 틀어지는 사고는 실무에서 빈번히 일어납니다.

과거에는 이런 실수를 바로잡기 위해 테스트 엔지니어가 수백 MB에 달하는 STDF를 ATDF(텍스트)로 덤프하고, 수작업 텍스트 편집 후 다시 컴파일하거나 복잡한 파이썬 스크립트를 작성해야 했습니다. DLOG는 이러한 엔지니어링 낭비를 완전히 제거하고, 바이너리 STDF V4를 직접 열어 UI 상에서 즉각 수정하고 무결한 STDF로 다시 저장할 수 있게 지원합니다.

Tools & Export 메뉴 구조

화면 오른쪽 상단의 Tools 메뉴와 Export 메뉴는 데이터 분석 화면에서 검토한 로트를 정정하고 내보내는 통합 컨트롤 타워입니다.

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상황별 편집 도구 선택 가이드

2. Edit STDF Info (로트 헤더 및 레코드 메타데이터 편집)

STDF V4 표준 규격의 핵심 메타데이터를 카테고리별로 열람하고 수정할 수 있는 중앙 편집 다이얼로그입니다. 좌측 Categories 탐색기에서 원하는 항목을 선택하여 값을 변경할 수 있습니다.

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8대 편집 카테고리 구성

3. Edit Result (개별 파트 및 측정값 정밀 편집)

웨이퍼 소트 맵의 특정 다이나 패키지 파이널 테스트의 특정 유닛 1개를 지정하여, 최종 판정과 파라메트릭 측정값을 미세 조정하는 도구입니다.

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4. Bulk Edit (조건부 일괄 편집 & 좌표 이동)

수십만 개의 다이 중에서 특정 불량 조건이나 사이트(Site), 파라메트릭 범위에 해당하는 파트를 필터링하여 한꺼번에 Bin을 바꾸거나, 삭제 처리하거나, 웨이퍼 좌표계를 반전/회전/이동할 수 있습니다.

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일괄 편집 3단계 워크플로우

1. 대상 파트 조건 지정 (Target parts):
   Soft BIN =, Hard BIN =, Result =, Site =, Item value (Low~High 범위 및 Inside/Outside 모드), Item is FAIL 중 원하는 조건을 활성화합니다. 켜진 조건들을 모두 만족(AND)하는 파트만 선택됩니다. 전체 로트를 대상으로 하려면 맨 위 Whole scope를 켭니다.
2. 대상 파트 사전 검증 (View targets...):
   실행 전 반드시 View targets... 버튼을 눌러 조건에 걸린 파트 수와 목록을 미리 확인합니다. 불필요한 파트가 포함되지 않았는지 점검할 수 있습니다.
3. 작업 선택 및 적용 (Action & Apply):
   원하는 액션을 지정하고 Apply를 누르면 최종 확인 팝업 후 메모리에 일괄 반영됩니다.

지원 액션(Action) 상세

5. Quick Fix (데이터 모순 원클릭 교정)

ATE 데이터로그에서 가장 흔히 발생하는 문제는 "스펙 리밋은 통과했는데 파트 판정은 불량으로 적혀 있거나", "Pass Bin에 들어가 있는데 판정 플래그는 FAIL인" 내부 데이터 모순입니다. DLOG의 Quick Fix 엔진은 로트 전체를 정밀 스캔하여 정합성 오류를 카드 형태로 브리핑하고, 가장 합리적인 해결책을 제시합니다.

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검출되는 주요 모순과 해결 카드

아래 카드 중 발견된 모순에 해당하는 것만 표시됩니다(위 예시는 4장). 이상이 없으면 "No consistency issues found."가 표시됩니다.

6. 리테스트 및 중복 파트 정제 (Retests & Duplicate Parts)

양산 프로빙이나 파이널 패키지 테스트 현장에서는 접촉 불량 재측정, 핸들러 오삽입, 시스템 재전송 등으로 동일한 다이 또는 유닛이 여러 번 기록되는 일이 흔합니다. DLOG는 다이 좌표(X/Y) 기반의 Delete Earlier Retests와 식별자 키(PART_ID / PART_TXT) 기반의 Delete Duplicate Parts라는 두 가지 정제 기능을 제공합니다.

6.1 Delete Earlier Retests (이전 리테스트 기록 삭제)

웨이퍼 프로빙 공정에서 동일한 다이 좌표를 2회 이상 다시 측정(Retest)했을 때, 각 다이의 최종 측정(Last Insertion) 결과만 남기고 이전의 1차/2차 기록을 메모리에서 완전히 삭제합니다.

동작 원리와 실행 절차

1. 명령 실행 (Tools > Edit > Delete Earlier Retests):
   실행 즉시 웨이퍼별 중복 측정 이력을 스캔하여 제거 대상이 될 이전 시도 다이 수를 산출하고 확인 팝업을 띄웁니다. (중복 좌표가 없으면 안내 후 중단)
2. 최종 시도(Last Insertion) 보존:
   확인 클릭 시 각 다이의 가장 마지막에 측정된 최종 기록만 남기고, 이전의 모든 1차/2차 측정 데이터는 메모리에서 완전히 삭제됩니다.
3. 전체 통계 및 맵 실시간 갱신:
   삭제된 이전 리테스트 기록은 수율 집계, 파레토, 웨이퍼 맵의 다이 히스토리, 향후 Save STDF 파일 저장 대상에서 완전히 제거됩니다. 실수로 지웠다면 언제든 Ctrl + Z로 즉시 되돌릴 수 있습니다.

6.2 Delete Duplicate Parts (중복 파트 삭제)

웨이퍼 좌표 유무와 상관없이 동일한 식별자(PART_ID 또는 PART_TXT)를 가진 중복 파트들을 찾아내어, 원하는 기준(마지막 파트 또는 첫 번째 파트) 하나만 남기고 나머지 중복 레코드들을 깔끔히 정리합니다. 패키지 파이널 테스트(Final Test)처럼 좌표가 없는 공정이거나, 2D 바코드/ECID 시리얼을 추적하는 라인에서 이중 기록으로 인한 수율 왜곡을 완벽히 해결합니다.

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3대 핵심 판정 규칙 (Duplicate Rules)

기본값은 처음 실행할 때의 값이며, Delete로 실행하면 선택한 세 가지 값이 저장되어 다음 실행 때 그대로 열립니다. (Cancel은 저장하지 않습니다.)

7. Save STDF & Anonymize STDF (바이너리 저장 및 가명화)

메모리 상에서 편집하거나 정합성을 교정한 로트를 온전한 표준 바이너리 STDF V4 파일로 재작성하거나, 민감한 기밀 정보를 완벽히 익명화하여 안전하게 반출할 수 있습니다.

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Save STDF (바이너리 STDF로 재저장)

편집된 파트 판정, 변경된 헤더, 보정된 좌표를 담아 새로운 .stdf 바이너리 파일로 출력합니다. 저장 직전 최종 정합성 이슈(Issues) 요약이 팝업되어 데이터 무결성을 검증합니다.

• 단일 파일 조건: 오직 바이너리 STDF 1개를 열었을 때만 저장 가능합니다 (ATDF 파일이나 여러 파일을 동시에 연 복합 뷰는 저장 불가).
• Retest 옵션 연동: 상단 Retest 칩이 Collapsed(기본)일 때는 리테스트로 대체된 이전 기록이 자동 제외되어 파일 용량이 슬림해지며, All insertions 모드일 때는 모든 시도 내역이 그대로 보존됩니다.

Anonymize STDF (지적재산권 보호 가명화)

외부 외주 OSAT 파운드리, 분석 랩, 장비 공급사, 학계 연구진에게 분석용 STDF를 제공할 때 지적재산권 유출을 방지하는 특수 기능입니다.

• 가명화 대상: Lot ID, Sublot ID, Test Program Name(과 Rev), Device/Part Type, Node Name, Operator, Test Item Name, Bin Name(이름만, Bin 번호는 유지)을 안전한 가명(Alias)으로 치환합니다. 웨이퍼 1장짜리 파일은 Wafer ID도 함께 치환합니다.
• 정밀 측정값 보존: 파라메트릭 전압/전류 실측값, 분포 통계, 웨이퍼 다이 좌표, Cpk 산포는 100% 원본 그대로 보존되므로 외부에서 통계 분석을 완벽히 재현할 수 있습니다.
• 치환 맵 자동 생성: 가명 사본 옆에 원본 식별자와 가명 식별자를 대조할 수 있는 치환 맵 파일(CSV)이 함께 저장됩니다. 치환 맵은 외부에 보내지 말고 내부에서만 보관하세요.

8. Repair STDF (손상/잘린 파일 비트 복구)

ATE 테스터의 예기치 않은 시스템 다운, 블루스크린, 네트워크 드라이브 끊김, 디스크 용량 부족 등으로 인해 STDF 파일의 끝부분이 잘려 나가거나(Truncation), 바이너리 스트림 중간 레코드가 깨진 경우 이를 비트 단위로 복구합니다.

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복구 엔진의 핵심 메커니즘

• 파일 비개방 실행: 대화상자에서 직접 디스크 파일을 지정하므로, DLOG에서 열리지 않는 심각하게 손상된 파일도 바로 복구할 수 있습니다. (대시보드의 STDF Repair Needed 칩 클릭 시 즉시 연결)
• 비트 단위 레코드 경계 재동기화: 레코드 헤더(길이 2바이트 + 타입 1바이트 + 서브타입 1바이트) 구조를 따라 레코드 경계를 다시 찾아 깨진 바이트 구간을 격리하고 유효한 파트 레코드(PIR/PTR/PRR)를 최대한 회수합니다.
• 누락 요약 레코드 자동 재구축 (Rebuild Summary): 파일 끝부분이 잘려 MRR(Lot 종료), PCR(파트 카운트), SBR(Soft Bin 요약), HBR(Hard Bin 요약), TSR(테스트 요약)이 누락되었거나 손상된 경우, 복구된 실제 파트들을 전수 재계산하여 STDF V4 표준에 완벽히 부합하도록 요약 레코드를 재합성하여 복원합니다.
• 복구 결과 투명 공개: 완료 대화상자에 정상 복구된 파트(Part) 수, 유지·재생성된 레코드 수, 제외된 손상 바이트 수 및 주요 처리 내역(INFO는 누락된 헤더·요약을 표준 사양에 따라 재합성했다는 기록)이 표시됩니다. 큰 구간을 건너뛴 경우에는 일부 파트가 누락되었을 수 있다는 경고도 함께 표시됩니다.
• 자체 무결성 검증 (Self-Validation): 복구 완료 즉시 자체 파서로 전수 리로딩 검증을 수행하여, 규격 미달 시 불량 파일을 남기지 않고 즉시 롤백 삭제합니다.

9. Split & Merge (STDF 파일 분할 및 병합)

거대 로트 파일을 용도별로 쪼개거나, 여러 회차로 나뉘어 측정된 동일 로트 조각들을 하나로 합쳐 단일 STDF로 통합할 수 있습니다.

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Split STDF (조건별 다중 파일 분할)

단일 대용량 STDF를 그룹별로 독립된 파일로 나누어 저장합니다:

• By Wafer: 웨이퍼마다 1개 파일로 분할 (웨이퍼 밖의 파트는 NOWAFER 파일로 분리 저장).
• By Site: 병렬 테스트 테스터의 사이트(Site 1, 2, 3...)별로 분할하여 사이트 간 간섭 분석에 활용.
• By Head: 멀티 헤드 테스트 환경에서 헤드별 파일 생성.
• Every N parts: 파일당 파트 수를 균등 분할. 동일 다이의 리테스트는 마지막 시도가 포함된 파일에 자동으로 함께 묶입니다.

특정 파트에 속하지 않는 레코드는 모든 출력 파일에 복사되며, 모든 파트가 같은 그룹이면 나눌 것이 없다고 안내합니다. 두 헤드의 웨이퍼가 동시에 열려 있는 구조와, 파트가 아닌 PRR(테스트 플랜 구분자 등)이 있는 파일은 아직 분할할 수 없습니다.

Merge STDF (다중 STDF 단일 통합)

단순한 바이너리 이어붙이기(Concatenation)가 아닙니다. 첫 번째 파일의 헤더(MIR, WCR, SDR, 핀 맵)만 남기고, 모든 파일의 파트는 바이트 그대로 복사한 뒤, 전체 파트를 전수 집계하여 PCR(파트 카운트), SBR/HBR(Bin 합계), TSR(테스트별 최소/최대/합계) 요약 레코드를 새로 계산합니다. 파일 선택 창에서 STDF를 2개 이상 고르고 저장할 이름을 정하며, 기록 순서를 정확히 정해야 할 때는 CLI의 merge(적은 순서대로 병합)를 사용하세요.

10. Convert Datalog & CLI 자동화

엔지니어의 수작업 인터랙티브 분석뿐만 아니라, 양산 라인의 서버 백그라운드 배치 프로세스에서도 동일한 변환/편집 엔진을 활용할 수 있습니다.

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다양한 반도체 표준 포맷 일괄 변환

dlog-cli.exe 헤드리스 자동화

DLOG 설치 폴더의 dlog-cli.exe를 사용하면 GUI 화면을 띄우지 않고 명령 프롬프트, 파이썬 스크립트, Jenkins 파이프라인에서 파일 변환, 복구, 리포트 생성을 100% 무인 자동화할 수 있습니다.

• dlog-cli info <inputs...> [--json]: Lot ID, 수율, 파트 수, Bin 요약 즉각 출력
• dlog-cli convert <inputs...> --format csv,sinf,g85,e142,json: 일괄 변환
• dlog-cli merge part1.stdf part2.stdf --out merged.stdf: 적은 순서대로 병합
• dlog-cli split <file.stdf> --by wafer|site|head|chunk [--out <folder>]: 웨이퍼 · 사이트 · 헤드 · 파트 수(--parts N)별 분할
• dlog-cli repair broken.stdf: 손상 파일 복구, 옆에 broken_repaired.stdf 생성
• dlog-cli anonymize lot1.stdf --out D:\share: 가명화 사본(_anon.stdf)과 치환 맵 CSV 생성
• dlog-cli report <inputs...> --format pdf,xlsx,docx,image: 리포트 생성

입력은 파일, 폴더(안의 *.stdf, *.std, *.atdf), *.stdf 같은 와일드카드를 모두 쓸 수 있습니다. 이미 있는 출력 파일은 --overwrite 없이는 덮어쓰지 않고 종료 코드 4로 끝나며, 메시지는 프로그램 언어와 관계없이 항상 영어입니다. 전체 옵션과 종료 코드는 앱의 Tools > Help > CLI Usage에서 확인하세요.

11. 자주 묻는 질문 (FAQ)

Q1. DLOG에서 STDF를 수정하면 원본 파일이 바로 덮어써지나요?

아닙니다. 자동으로 덮어써지지 않습니다. DLOG는 완전한 인메모리 가상 편집 방식을 사용합니다. 모든 수정 내용은 PC 메모리에서만 연산되며, 사용자가 명시적으로 Tools > Output > Save STDF를 실행하여 새 파일명을 지정하기 전까지 원본 파일은 최초 상태 그대로 유지됩니다. 저장하지 않은 편집이 있는 채로 문서를 닫거나 다른 파일을 열면 확인창이 먼저 뜹니다. 다만 저장할 때 원본과 같은 이름을 고르면 덮어써지므로, 새 이름으로 저장하거나 원본을 백업해 두세요.

Q2. DLOG에서 편집하여 저장한 STDF 파일은 다른 상용 툴(JMP, YieldHub, Galaxy 등)에서도 정상적으로 열리나요?

STDF V4 표준 구조로 저장하므로 일반적으로 열립니다. DLOG는 STDF V4 바이너리 사양에 맞게 레코드 길이, 타입/서브타입 코드, 핀 매핑 구조를 다시 기록하고, 저장한 파일을 스스로 다시 읽어 검증합니다. 다만 타사 분석 소프트웨어별 해석 차이까지 보증할 수는 없으므로, 중요한 데이터는 사용 중인 툴에서 한 번 열어 확인하세요.

Q3. Quick Fix와 Bulk Edit은 어떻게 다른가요?

Quick Fix는 주로 "규격 리밋과 측정값 간의 논리적 모순"이나 "Bin 선언과 파트 판정의 불일치"처럼 데이터 자체에 에러가 있을 때 이를 감지하여 정합성을 맞추는 오류 교정 도구입니다. 반면 Bulk Edit은 데이터 에러 여부와 무관하게 엔지니어가 지정한 조건(특정 Site, 특정 파라메트릭 수치 범위 등)을 만족하는 다이들을 선별하여 수율 재분류, Bin 강제 변경, 웨이퍼 좌표계 회전/이동을 수행하는 배치 작업 도구입니다.

Q4. 프로버나 테스터가 중간에 다운되어 파일 끝이 잘렸습니다. 복구가 가능한가요?

네, Repair STDF로 높은 확률로 복구할 수 있습니다. DLOG의 복구 엔진은 비정상적으로 잘려 나간 마지막 불완전 바이트를 깔끔히 제거하고, 파일에 정상적으로 저장되어 있던 유효 파트 레코드들을 최대한 복원합니다. 그리고 누락된 PCR, SBR, HBR, TSR 요약 레코드를 복구된 파트 기준으로 자동 재계산하여 완전무결한 STDF 파일로 다시 조립해 냅니다.

Q5. 여러 STDF를 Merge(병합)할 때 주의할 점은 무엇인가요?

병합할 파일들은 동일한 디바이스와 테스트 프로그램에서 생성된 것이어야 합니다. 테스트 항목 구성(TSR 목록)이나 버전이 다르면 병합이 거부됩니다. 또한 파일마다 다이 시리얼 번호(PART_ID)가 동일하게 매겨져 있다면, 병합 후 하나의 웨이퍼로 인식될 때 뒤쪽 파트가 앞쪽 파트의 리테스트로 간주될 수 있으므로 주의해야 합니다.

Q6. Delete Earlier Retests와 Delete Duplicate Parts의 차이점은 무엇인가요?

Delete Earlier Retests는 주로 웨이퍼 소트 공정에서 동일한 물리 좌표(X, Y 다이 위치)에 여러 번 프로빙된 이력 중 이전 시도를 지우고 최종 프로빙만 남기는 좌표 기반 정리 도구입니다.
반면 Delete Duplicate Parts는 웨이퍼 소트뿐 아니라 패키지 파이널 테스트(Final Test)처럼 좌표가 없는 공정에서도 PART_ID(유닛 시리얼/바코드) 또는 PART_TXT 문자열이 동일하게 기록된 파트들을 찾아내어 원하는 기준(마지막 또는 첫 번째) 하나만 남기고 중복을 제거하는 식별자 기반 정리 도구입니다.

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