Kumpletong Gabay sa Multi-Dimensional Charts ng DLOG

1. Layout ng Screen at Pag-navigate

Pumili ng uri ng chart, test item, at saklaw ng halaga upang agad na ma-update ang chart at mga estadistika. I-click ang anumang item sa kanang sidebar ng Tests (Cpk) upang lumipat sa pagsubok na iyon; ang mga bagsak na item ay naka-highlight sa pula.

I-zoom

• Mga Uri ng Chart: Histogram · Trend · Box Plot · Scatter Plot · BIN Pareto · CDF / Probability (nananatili ang napiling pagsubok habang nagpapalit)
• Saklaw ng Halaga: Auto (P1~P99) · Full (Min~Max) · Spec Limits · Manual...
• Paghahanap ng Item: Ctrl + F para mabilis na maghanap ayon sa pangalan o numero ng pagsubok
• I-right-click ang Punto: Ipin-pin ang card ng impormasyon ng bahagi na may direktang link sa Table · Record · Wafer

2. Histogram — Distribusyon at Cpk

Ipinapakita ang distribusyon ng sukat kasama ang Gaussian fit curve, mean, ±σ, at mga spec limit (LL/HL). Ang mga sample na lumampas sa limitasyon ay naka-highlight sa mga pulang bar.

I-zoom

3. Trend — Pagsubaybay sa Time-Series & Drift

Ini-plot ang mga sukat ayon sa kronolohikal na pagkakasunod-sunod ng test sa die upang matukoy ang drift, thermal warm-up, at biglaang mga outlier.

I-zoom

• Sites: Pangkulay ayon sa site · Fails: I-highlight ang mga bagsak · Gaps: Putulin ang linya sa mga paghinto · MovAvg: Rolling moving average
• WECO: Mga panuntunan ng Western Electric control chart (R1~R4). Pag-ikot ng button: Naka-off → 2x → 3x → 1x. Para sa multi-site setups, ang 2x o 3x ay umiiwas sa mga maling alerto.
• DPAT (trend): Nagpapatong ng adaptive Part Average Testing bands na muling kinakalkula bawat wafer (asul), site (orange), o lot (ube).
• Pagkatapos mag-zoom gamit ang mouse wheel, mag-double-click upang bumalik sa orihinal na view.

4. Box Plot — Mga Quartile at Outlier

Ipinapakita ang 5-number summary: median, interquartile range (IQR), whiskers, at outliers sa iisang compact na view.

I-zoom

Ipinapakita ng panel ng estadistika ang Median, Q1, Q3, IQR, Whisker bounds, at bilang ng outliers. I-right-click ang anumang outlier point upang mahanap ang die sa Wafer Map.

5. Scatter / Pagsusuri ng Korelasyon / 3D

Suriin ang relasyon ng dalawang parameter gamit ang scatter plot at regression line, at tingnan ang correlation coefficient ng lahat ng pares sa interactive heatmap.

I-zoom

• Pearson: Lakas ng linear na relasyon · Spearman: Batay sa ranggo (matatag laban sa matinding outliers)
• Ang mga pares na may |r| ≥ 0.95 ay minarkahan bilang Duplicate test para sa Test Time Optimization (TTO).

I-zoom

6. BIN Pareto — Ranking ng Depekto

Inaayos ang mga bagsak na BIN ayon sa dalas kasama ang cumulative contribution curve. Hindi kailangang pumili ng partikular na test parameter.

I-zoom

Ang nangungunang 15 BIN ay ipinapakita nang isa-isa, habang ang natitira ay pinagsama sa isang Others bar. I-cross-reference ang nangungunang fail mode sa Wafer Map BIN tab upang suriin ang spatial cluster.

7. CDF / Probability — Mga Anomali sa Tail

Ini-plot ang kumulatibong proporsyon ng mga sample sa ilalim ng bawat threshold ng sukat. Ang dashed curve ay kumakatawan sa normal distribution; ang paglihis ng kurba ay nagpapakita ng asymmetry at nakatagong depekto sa mga dulo (tails).

I-zoom

Ang mga banayad na outlier die na halos hindi nakikita sa mababang histogram bar ay malinaw na lumilitaw sa mga dulo ng CDF S-curve.

8. Pagsusuri ng Grupo (ANOVA) & Multi-Site Delta

Ihambing ang mga variance sa mga site, temperatura, lot, o tester revision, at tukuyin ang mga hardware imbalance sa pagitan ng magkakatulad na test channel.

I-zoom

I-zoom

• Kapag p < 0.05 at Eta² ≥ 0.05, ito ay nagpapakita ng makabuluhang pagkakaiba ng grupo na nangangailangan ng aksyon. (Sa malalaking sample, ang p-value ay maaaring maging napakaliit kahit sa manipis na pagkakaiba.)
• Ang STDF Site 255 conventions (kabuuang buod ng lahat ng site) ay matalinong pinangangasiwaan gamit ang SITE 255 on part records sa Main Options.

9. Pag-export at Pag-uulat

Ang Export CSV ay nagse-save ng raw data at mga estadistika ng kasalukuyang chart, habang isinasama ng Report Generator ang mga napiling snapshot ng chart sa mga pormal na ulat. Upang i-overlay ang distribusyon mula sa maraming file, gamitin ang Overlay tab sa Compare view.

↑ Bumalik sa itaas