Maramdaman ang pagkakaiba sa bawat click.
Binabasa ang bawat STDF V4 record — mula wafer maps hanggang raw byte level.
Bin maps at PAT 2D / 3D value maps sa wafer, kasama ang yield, Pareto at histogram.
Histogram, trend, scatter at 3D scatter na may spec limits, sigma bands at Cpk.
PAT, Gauge R&R, correlation at Cpk — gawing root-cause clues ang raw datalogs.
I-overlay at i-rank ang maraming datalog — wafer-to-wafer at lot-to-lot sa isang view.
Mag-export sa PDF, Excel at image sa ilang click — handa nang ipasa.
Ang STDF (Standard Test Data Format) ay industry-standard na binary file format para sa semiconductor test data. Orihinal itong ginawa ng Teradyne at ginagamit ngayon sa halos lahat ng Automatic Test Equipment (ATE) platform para i-record ang resulta ng wafer sort at final test. Kapag sinusukat ng tester ang die o packaged device, isinusulat nito ang parametric measurements, pass/fail bins at test conditions sa isang STDF file na karaniwang tinatawag na datalog.
Ang STDF (Standard Test Data Format) ay industry-standard na binary file format para sa semiconductor test data. Orihinal itong ginawa ng Teradyne at ginagamit ngayon sa halos lahat ng Automatic Test Equipment (ATE) platform para i-record ang resulta ng wafer sort at final test. Kapag sinusukat ng tester ang die o packaged device, isinusulat nito ang parametric measurements, pass/fail bins at test conditions sa isang STDF file na karaniwang tinatawag na datalog.
Binabasa ng DLOG ang STDF V4, naglo-load ng maraming file nang sabay, at ginagawang wafer maps, charts at PDF / Excel / image reports ang raw datalogs nang offline sa iyong PC.
Lokal na tumatakbo sa iyong computer ang lahat ng STDF parsing at analysis.
Hindi ipinapadala sa anumang server ang iyong datalog at yield data.
Walang sign-up at hindi kailangan ng internet connection para gamitin ang DLOG.
Ang DLOG ay isang STDF analysis tool at STDF viewer para sa Windows. Binubuksan nito ang mga STDF V4 datalog file na isinulat ng ATE (automatic test equipment) sa panahon ng wafer sort, probe test at final test, at ginagawang wafer map, buod ng yield at statistical report ang hilaw na semiconductor test data.