Rasai perbezaan pada setiap klik.
Ubah bin, pass/fail, nilai ukuran hingga pengepala MIR — kemudian simpan semula sebagai STDF.
Bin map dan PAT value map 2D / 3D pada wafer, bersama yield, Pareto dan histogram.
Histogram, trend, scatter dan 3D scatter dengan had spesifikasi, jalur sigma dan Cpk.
PAT, Gauge R&R, korelasi dan Cpk — tukar datalog mentah menjadi petunjuk punca masalah.
Tindih dan susun banyak datalog — wafer-ke-wafer dan lot-ke-lot dalam satu paparan.
Eksport ke PDF, Excel dan imej dalam beberapa klik — sedia untuk dikongsi.
STDF (Standard Test Data Format) ialah format fail binari standard industri untuk menyimpan data ujian semikonduktor. Ia asalnya dicipta oleh Teradyne dan kini digunakan secara meluas pada platform Automatic Test Equipment (ATE) untuk merekod keputusan wafer sort dan final test. Apabila tester mengukur die atau peranti pakej, ukuran parametrik, bin lulus/gagal dan keadaan ujian ditulis ke dalam fail STDF yang biasa dipanggil datalog.
STDF (Standard Test Data Format) ialah format fail binari standard industri untuk menyimpan data ujian semikonduktor. Ia asalnya dicipta oleh Teradyne dan kini digunakan secara meluas pada platform Automatic Test Equipment (ATE) untuk merekod keputusan wafer sort dan final test. Apabila tester mengukur die atau peranti pakej, ukuran parametrik, bin lulus/gagal dan keadaan ujian ditulis ke dalam fail STDF yang biasa dipanggil datalog.
DLOG membaca STDF V4, memuatkan banyak fail sekali gus, dan menukar datalog mentah kepada wafer map, carta, serta laporan PDF / Excel / imej secara luar talian pada PC anda.
Semua pembacaan dan analisis STDF berjalan secara setempat pada komputer anda.
Datalog dan data yield anda tidak pernah dihantar ke mana-mana pelayan.
Tiada pendaftaran dan tiada sambungan internet diperlukan untuk menggunakan DLOG.
DLOG ialah alat analisis STDF dan pemapar STDF untuk Windows. Ia membuka fail datalog STDF V4 yang ditulis oleh ATE (peralatan ujian automatik) semasa wafer sort, probe test dan final test, lalu menukar data ujian semikonduktor mentah kepada peta wafer, ringkasan hasil dan laporan statistik.