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● STDF · 标准测试数据格式 · 版本 4

What is STDF?完整、通俗易懂的英语指南

STDF(标准测试数据格式)是用于存储的行业标准二进制文件格式 半导体测试数据。本页解释了什么是 STDF、它存在的原因以及该文件的具体用途 已构建,其中的每个记录类型 - 从格式设计到每个字段 - 无论您是工程师、程序员还是 ATE 新手,都可以轻松遵循。

Introduction

1. What STDF is

STDF(标准测试数据格式) 是一个简单、灵活、可移植、二进制的 用于存储半导体测试设备产生的结果的数据格式。它被创建了 通过 Teradyne 并于 1985 年首次推出。因为它有充分的记录和 供应商中立,它成为 de-facto standard 贯穿整个自动测试 设备(ATE)行业。

当测试仪测量晶圆或封装器件上的芯片时,它会记录参数 将测量、通过/失败结果、箱分配和测试条件保存到 STDF 中 文件 — 通常称为 datalog。一个 STDF 文件保存一批的测试数据 一次插入的零件(通过测试的一次通过)。

关键思想:STDF 是 不是数据库,也不是固定的报告。它是一个定义的 一套 逻辑记录类型。每条记录描述了一次测试运行 (零件、晶圆、单次测量、容器计数等)。因为数据是描述的 作为逻辑记录,无论数据位于内存缓冲区还是文件中,格式都相同 在磁盘上,或通过网络发送 - 独立于任何特定数据库或网络 架构。

In one sentence: STDF 是类型化“记录”的紧凑二进制容器, 让来自任何测试仪(Teradyne、Advantest、Cohu/Xcerra 或定制 ATE)的测试数据 使用相同的工具进行读取和分析。当今使用最广泛的版本是 STDF V4, 本页描述了这一点。
Motivation

2. STDF为何存在

随着 ATE 行业的成熟,供应商围绕通用的网络和分析系统构建了网络和分析系统。 标准,例如以太网。但仍然存在一个明显的差距: 测试结果数据不是 不同制造商的测试仪之间兼容 ——有时甚至没有 同一制造商的产品线之间。

如果没有共享格式,每个晶圆厂和每个 OSAT(组装和测试工厂)都需要一个 为每台机器定制解析器。 STDF 缩小了这一差距。它提供了一个单一的通用容器 这样:

  • 测试人员可以快速地用自己的本机表示形式编写原始结果;
  • 集中式数据库引擎可以通过一个程序接受来自广泛测试人员的数据;
  • 数据可以以记录齐全、经过彻底调试的形式导出回内部网络;
  • 便携式报告和分析软件只需编写一次即可随处使用。

泰瑞达没有从该标准中获得直接的商业利益——它准确地发布了 STDF 因此,通过通用的、完整记录的格式,整个行业可以提高生产力。

Design goals

3、设计目标

STDF 的设计以一小组明确的目标为指导:

  • 能够存储测试数据 all 半导体测试仪和微调器。
  • 为两者提供通用格式 storage and transmission of data.
  • 提供基础 portable 报告和分析软件。
  • 将数据消息格式与数据库格式解耦,因此两者都可以独立发展。
  • 提供支持 optional (丢失或无效)数据。
  • 为开发人员和用户提供完整、简洁的文档。
  • 让客户可以轻松编写自己的报告或为自己的数据库重新格式化数据。
File anatomy

4. STDF 文件的结构

STDF 文件只是一个 记录顺序,一个接一个。每一条记录 - 无论其类型 - 都以相同的方式开始 4字节记录头:

FieldTypeMeaning
REC_LENU*2标头后面的数据字节数(标头本身的 4 个字节不计算在内)。
REC_TYPU*1一个整数标识 group 相关记录类型。
REC_SUBU*1一个整数标识 specific 该组中的记录类型。

The pair (REC_TYP, REC_SUB) 唯一标识每个记录类型。分组依据 REC_TYP 让分析程序快速识别记录族(例如, “每个部分收集的所有内容”)。所有低于 200 的类型/子类型代码均由泰瑞达保留; 200 以上的代码对于定制应用程序是免费的。

记录组 (REC_TYP)

REC_TYPGroup记录类型 (REC_SUB)
0有关文件的信息远距 (10)、ATR (20)
1Per-lot dataMIR (10)、MRR (20)、PCR (30)、HBR (40)、SBR (50)、PMR (60)、PGR (62)、PLR (63)、RDR (70)、SDR (80)
2Per-wafer dataWIR (10)、WRR (20)、WCR (30)
5Per-part dataPIR (10)、PRR (20)
10每次测试(整个程序)TSR (30)
15每次测试执行PTR (10)、MPR (15)、FTR (20)
20每个节目片段基准点 (10)、每股收益 (20)
50Generic data东德 (10)、德意志民主共和国 (30)

字节顺序和 CPU_TYPE 技巧

不同的处理器(DEC、Motorola、Intel、IBM、Sun...)存储整数和浮点 具有不同位顺序的数字。而不是强迫每个测试人员按原样转换数据 写入(这会减慢测试速度),STDF 让每个系统 用自己的母语写 代表性 and records which CPU将文件写入 CPU_TYPE 第一个记录的字段 (FAR)。当另一个系统读取该文件时,它会检查 CPU_TYPE 并仅在需要时将每个记录转换为其自己的表示形式。数据 转换在读取时变得透明,并且测试永远不会减慢。

Dates and times

每个日期/时间字段都是一个 4 字节无符号整数,计数 秒数 自1970年1月1日午夜起 (UNIX 纪元),采用本地时区。

Encoding

5. 数据类型代码

STDF 使用简短的、可识别的代码来表示其字段类型。例如 R*4 意味着一个 4 字节实数(浮点)。后面的数字是 * 是以字节为单位的大小;一个字节是8位。

CodeC typeDescription
C*12char[12]固定长度的字符串。如果较短,则左对齐并用空格填充。
C*nchar[]可变长度字符串;第一个字节是后续字节的无符号计数(最多 255)。
C*fchar[]变长字符串,其长度存储在另一个字段中。
U*1 / U*2 / U*4unsigned1、2 和 4 字节无符号整数。
I*1 / I*2 / I*4signed1、2 和 4 字节有符号整数。
R*4 / R*8float / double4 字节和 8 字节浮点数。
B*6char[6]固定长度位编码数据。
B*nchar[]可变长度位编码字段;第一个字节是字节计数(最大 255)。
D*nchar[]可变长度位域;前两个字节是 bit 计数(最大 65,535 位)。
N*1char存储在半字节(4 位)中的无符号整数。第一个值在低半字节中,第二个值在高半字节中。
V*n—变量数据类型:第一个字节是告诉您类型的代码,然后是数据。
kxTYPETYPE[]An array of k 给定类型的项目,其中 k 来自更早的领域。例如 kxU*2.
Robustness

6. 可选、缺失和无效数据

很多字段都被标记了 optional。可选字段仍必须存在于 记录,但是有两种标准方式可以说“这个值没有意义”:

  1. A 预定义保留值 意思是“失踪”——例如a 的长度字节为 0 字符串,或特定数字,例如数字字段的 -1。
  2. An 可选数据位字段:一个字节,其中每个位都标记是否是特定的 可选字段保存有效数据。

为了节省空间,可选字段位于 end 记录的一部分可以被完全省略—— 但前提是它们(以及它们之后的所有内容)包含丢失/无效的数据。你可能永远不会省略 可选字段来自 middle of a record.

“必需”与“可选”的含义很窄。 它仅定义了什么使 minimally valid STDF 文件。分析软件(甚至是供应商自己的)可能需要字段 规范称之为可选的。实际上,最低限度有效的文件很少有足够的数据用于 完整报告——您通常会填写超过严格最低限度的内容。
Rules

7. 所需记录及初始顺序

在 STDF V4 下,有效文件必须包含 四项必需的记录:

  • FAR — 正是一个,而且一定是 first 记录在文件中。
  • MIR — 正好是一个,就在 FAR 之后(以及任何 ATR 之后)。
  • PCR — 至少一个(摘要 PCR HEAD_NUM = 255,或每个头/站点一个,或两者都有)。
  • MRR — 正是一个,而且一定是 last 记录在文件中。

一些记录称它们的位置是“初始序列之后”。这 初始的 序列 是文件开头的固定记录块。其排序规则:

  • FAR 始终是第一位的。
  • 任何 ATR(审计跟踪)都会在 FAR 之后立即出现。
  • MIR 位于 FAR 和 ATR 之后。
  • 如果使用 RDR(重新测试),它会紧接在 MIR 之后。
  • 如果使用 SDR(站点描述),它们会紧跟在 MIR(和 RDR,如果存在)之后。
# 完整的初始序列:
FAR → [ATRs] → MIR → [RDR] → [SDRs] → ……所有其他记录…… → MRR
Reference

8. 每个 STDF V4 记录类型

下面是 STDF V4 定义的每个记录类型,按其描述的内容进行分组。对于每一个你 获取它的功能,它出现的频率,它在文件中的位置,以及 - 对于重要的 记录 — 完整的字段列表。标头字段(REC_LEN, REC_TYP, REC_SUB) 从字段表中省略,因为它们对于每条记录都是相同的。

0

文件级记录

FAR 文件属性记录 — 必填,第一条记录

告诉读者如何解码文件的其余部分。因为它承载着 CPU_TYPE and STDF_VER,必须先读。

FieldTypeDescription
CPU_TYPEU*1哪个 CPU 写入了该文件(0 = DEC PDP-11/VAX,1 = Sun 1–4,2 = Sun 386i / IBM PC 系列)。
STDF_VERU*1用于生成数据的 STDF 版本号。

ATR 审计追踪记录 - 选修的

记录更改文件的任何操作(通常是过滤程序)。多个 ATR 坐 紧随 FAR 之后按时间倒序排列。

FieldTypeDescription
MOD_TIMU*4文件修改的日期和时间。
CMD_LINEC*n更改文件的程序的命令行。
1

Per-lot records

MIR 主信息记录 — 必填,每个文件一个

保存有关测试批次的全局信息——“所有报告的标题”。它有 许多字段(大多数是可选的);此处显示了重点内容。

FieldTypeDescription
SETUP_TU*4作业设置的日期/时间。
START_TU*4第一部分测试的日期/时间。
STAT_NUMU*1测试站编号。
MODE_CODC*1测试模式(P = 生产、D/E = 开发、M = 维护、Q = QC、C = 检查者、A = AEL)。
RTST_CODC*1Lot retest code.
BURN_TIMU*2老化时间以分钟为单位。
LOT_IDC*n批次 ID(客户指定)。
PART_TYPC*n零件类型/产品 ID。
NODE_NAMC*n生成数据的节点的名称。
TSTR_TYPC*nTester type.
JOB_NAMC*n作业/测试程序名称。
JOB_REVC*n测试程序修订。
SBLOT_IDC*nSublot ID.
OPER_NAMC*n设置时的操作员姓名/ID。
TST_TEMPC*n测试温度(自由文本 - 例如“25C”、“热”、“冷”)。
PROC_IDC*n制造工艺 ID。
FLOW_ID、PKG_TYP、FAMLY_ID、DATE_COD、FACIL_ID,...C*n许多其他可选标识符(流程、封装、产品系列、日期代码、设施、规格名称/版本、ROM 代码、测试仪序列号、主管等)。

MRR 主结果记录 — 必填,最后记录

MIR 的逻辑延续,仅在测试完成后保存已知的数据。它是 始终是文件中的最终记录。

FieldTypeDescription
FINISH_TU*4最后一部分测试的日期/时间。
DISP_CODC*1批次处置代码(用户定义的字母数字)。
USR_DESCC*n用户提供的批次描述。
EXC_DESCC*n批次描述由执行软件提供。

PCR Part Count Record — 必需,每个文件 ≥ 1

保存一个测试站点的零件计数总数,或者当 HEAD_NUM = 255,对于所有 站点合并。

FieldTypeDescription
HEAD_NUM / SITE_NUMU*1测试头/站点(255 = 所有站点的摘要)。
PART_CNTU*4测试的零件数量。
RTST_CNTU*4重新测试的零件数量。
ABRT_CNTU*4测试期间中止的次数。
GOOD_CNTU*4良好(合格)零件的数量。
FUNC_CNTU*4功能部件的数量(足以测试、通过或失败)。

HBR 硬件 Bin 记录 ·  SBR 软件Bin记录

HBR counts parts physically 测试后放入硬件箱中 (在晶圆测试中,“物理”是指墨点或晶圆图条目)。 SBR 计数 零件 logically 分配给软件箱 - 测试中定义的更精细的类别 程序。两者具有相同的形状:

FieldTypeDescription
HEAD_NUM / SITE_NUMU*1头/站点(255 = 所有站点)。
HBIN_NUM / SBIN_NUMU*2容器编号 (0–32767)。
HBIN_CNT / SBIN_CNTU*4料箱中的零件数量。
HBIN_PF / SBIN_PFC*1通过/失败指示器(P = 通过,F = 失败,空格 = 未知)。
HBIN_NAM / SBIN_NAMC*nName of the bin.

PMR · PGR · PLR 引脚映射记录

这三个记录描述了器件引脚和测试器通道之间的映射,由 功能(FTR)和多结果(MPR)记录。简而言之: PMR 映射单个 通道↔引脚对并为其指定索引 (1–32,767); PGR 命名一组引脚 (组指数 32,768–65,535); PLR 定义显示基数、操作模式、 以及用于显示编程和返回的引脚状态的字符编码。看 §11 引脚映射 完整的演练。

RDR 复测数据记录 - 选修的

表示文件包含重新测试的部件并列出正在重新测试的 bin,因此 过滤程序知道要替换哪些数据。如果存在,它会立即跟随 MIR。

FieldTypeDescription
NUM_BINSU*2正在重新测试的 bin 数量(0 = 所有 bin)。
RTST_BINkxU*2正在重新测试的硬件 bin 编号的数组。

SDR 站点描述记录 - 选修的

描述一个头上的一组测试站点的物理配置 - 处理程序/探测器, 探针卡、负载板、DIB 板、电缆、接触器、激光器及其类型/ID 对。习惯于 将产量与接口硬件相关联。如果存在,SDR 会立即遵循 MIR(和 RDR)。

2

每晶圆记录(仅限晶圆探针)

WIR 晶圆信息记录·  WRR 晶圆结果记录

A WIR/WRR 对支持在一个晶圆上测试的所有内容 — WIR 标志着开始, WRR结束。他们有共同点 HEAD_NUM and SITE_GRP。 WIR 携带 晶圆的开始时间和 WAFER_ID; WRR携带完成时间,同件/复测/ 中止/良好/功能计数为 PCR,以及用于跟踪的额外 ID:

Field (WRR)TypeDescription
FINISH_TU*4测试晶圆上最后一个芯片的日期/时间。
PART_CNT … FUNC_CNTU*4测试/重新测试/中止/良好/功能芯片计数。
WAFER_IDC*n晶圆 ID(取代 WIR 中的 ID)。
FABWF_IDC*nFab 晶圆 ID — 将结果链接回制造。
FRAME_IDC*n晶圆框架 ID — 跟踪锯切后的晶圆,以实现无墨装箱。
MASK_IDC*nWafer mask ID.

WCR 晶圆配置记录 — 每个文件一个,仅限晶圆测试

给出批次中所有晶圆的物理尺寸和方向 - 用于绘制晶圆图。

FieldTypeDescription
WAFR_SIZR*4晶圆直径(以 WF_UNITS 为单位)。
DIE_HT / DIE_WIDR*4模具高度和宽度。
WF_UNITSU*1单位:1 = 英寸、2 = 厘米、3 = 毫米、4 = 密耳(0 = 未知)。
WF_FLATC*1晶圆平面的方向 (U/D/L/R)。
CENTER_X / CENTER_YI*2模具中心坐标。
POS_X / POS_YC*1哪个方向是正 X (L/R) 和正 Y (U/D)。
5

Per-part records

PIR 零件信息记录·  PRR 零件结果记录

A PIR/PRR 一对将在一个部件上测试的所有内容括起来。 PIR 只是一个 在测试零件之前放置的标记(头部+部位);该部分的所有结果 (PTR/MPR/FTR) 跟随,然后 PRR 以结果结束它。并行测试时, HEAD_NUM/SITE_NUM 将每个结果与正确的 PIR/PRR 对关联起来。

Field (PRR)TypeDescription
HEAD_NUM / SITE_NUMU*1这部分的头/站点。
PART_FLGB*1位标志:由 PART_ID(位 0)或 X/Y(位 1)取代;异常结束(位2);失败(位 3);通过/失败有效(位 4)。
NUM_TESTU*2对零件执行的测试数量。
HARD_BINU*2零件所在的硬件箱 (0–32767)。
SOFT_BINU*2软件箱(65535 = 缺失)。
X_COORD / Y_COORDI*2晶圆坐标(-32768 = 缺失)。
TEST_TU*4已用测试时间(以毫秒为单位)。
PART_IDC*n零件标识。
PART_TXTC*n零件描述文本。
PART_FIXB*n特定于应用程序的修复信息(请参阅 §12).
Practical note: 您应该提供 PART_ID or the X_COORD/Y_COORD 配对 - 否则结果很难用于 分析或放置在晶圆图上。
10

Per-test summary

TSR 测试概要记录 — 程序中的每个测试一个

总结整个批次中单个测试的执行和失败计数,以及静态 测试名称等信息。它通过测试编号、头和站点链接到 PTR/MPR/FTR。

FieldTypeDescription
HEAD_NUM / SITE_NUMU*1头/站点(255 = 所有站点的摘要)。
TEST_TYPC*1P = 参数化,F = 函数式,M = 多结果参数化。
TEST_NUMU*4Test number.
EXEC_CNTU*4执行次数。
FAIL_CNTU*4失败次数。
ALRM_CNTU*4报警测试的数量。
TEST_NAM / SEQ_NAME / TEST_LBLC*n测试名称、序列发生器名称和标签。
TEST_TIMR*4平均执行时间(秒)。
测试最小值/测试最大值R*4所见的最低/最高结果值。
TST_SUMS / TST_SQRSR*4结果的总和和平方和 - 用于计算平均值和标准差,即使在合并多个文件时也是如此。
15

每次测试执行记录(测量)

PTR 参数测试记录 — 每个参数测试执行一个

数据记录的主力: 一个 PTR 保存单个参数的结果 测量 (电压、电流、时序……)。这 first 给定的 PTR 测试编号还带有“半静态”描述——限制、单位、比例和格式—— 这成为该测试的每个后续 PTR 的默认值(这取代了单独的 PDR STDF V3 中使用的记录)。为了节省空间,以后的 PTR 会忽略这些默认字段,除非覆盖它们。

FieldTypeDescription
TEST_NUMU*4Test number.
HEAD_NUM / SITE_NUMU*1Head / site.
TEST_FLGB*1测试标志:报警、结果有效、可靠、超时、已执行、中止、通过/失败。
PARM_FLGB*1参数标志:比例误差、漂移、振荡、高于/低于限制、交替限制通过。
RESULTR*4测量值(相关标志位全为0时有效)。
TEST_TXTC*n测试说明/标签。
ALARM_IDC*n触发的任何警报的名称。
RES_SCALI*1结果缩放指数(10 的幂)。看 §10.
LO_LIMIT / HI_LIMITR*4测试下限和上限(使用 LLM_SCAL / HLM_SCAL 指数)。
UNITSC*n基本单位(例如“AMPS”、“VOLTS”——绝不是“uAMPS”)。
C_RESFMT / C_LLMFMT / C_HLMFMTC*n用于显示的 ANSI C 格式字符串(例如“%7.2f”)。
LO_SPEC / HI_SPECR*4规格下限/上限(在第一个 PTR 中设置一次)。

MPR 多结果参数记录 — V4 中的新功能

与 PTR 类似,但用于返回的参数测试 一次有多个值 (例如,跨引脚阵列的测量或 shmoo 扫描)。它携带一系列 返回结果(RTN_RSLT)并且可选地,引脚状态(RTN_STAT) 以及它们所属的 PMR 索引。对于 shmoo 日志记录, START_IN / INCR_IN / UNITS_IN 描述扫描输入条件。限制、单位和缩放比例准确无误 与 PTR 中一样,第一个 MPR 建立默认值。

FTR 功能测试记录 — 每次功能测试执行一个(或多个)

保存单个功能(矢量/模式)测试的结果 - 通过/失败加上丰富的失败 细节。测试的第一个 FTR 带有半静态默认值(替换 STDF V3 的 FDR 记录)。 关键字段包括向量周期计数和地址、故障引脚数量、X/Y 故障 地址(用于存储器模式生成器)、返回和编程的引脚状态(作为数组 PMR 索引和半字节编码状态)、失败引脚位字段、模式/向量名称、时间 设置、操作码和模式生成器编号。返回状态代码的范围超过低/高/ 中频/毛刺/未确定及其失败的变体;确切的显示字符来自PLR。

20

每个节目段记录

BPS 开始程序部分·  EPS 结束程序部分

可选标记,将部件的测试流程中的命名程序部分(定序器)括起来。 BPS 带有部分名称; EPS 没有任何内容 — 每个 EPS 匹配最近未匹配的 BPS,因此这些对可以嵌套(一个定序器调用另一个定序器)。 他们让分析集中于程序的特定部分。

50

通用/自由格式记录

GDR 通用数据记录

不适合任何其他记录类型的信息的包罗万象。它保存字段的数量 接下来是许多自我描述 GEN_DATA 值 — 每个值都以 a 开头 一字节类型代码(整数、浮点数、字符串、位数据、半字节……),然后是数据。一个特别的 填充类型(代码 0)用于将多字节值保留在偶数字节边界上。写在下面 用于任何用户定义目的的作业计划控制。

DTR 数据记录文本记录

数据记录打印输出中包含自由 ASCII 文本 — 用于突出显示意外结果 或记录数据记录采样率变化等事件。它携带着一个单 TEXT_DAT 字符串,可以出现在初始序列之后的任何位置。

实践中的布局

9. 文件中的记录如何排序

确切的记录顺序取决于您测试的是晶圆还是封装部件,无论是 并行测试是否开启,以及数据记录是否启用。这是规范模式。

许多封装设备(完整数据记录)

FAR                         file-level info
MIR                         global lot info
  PIR                       ┐第一部分开始
    PTR / MPR / FTR … │ 该部分的每项测试
  PRR                       ┘ 第一部分结果
  PIR … PTR/MPR/FTR … PRR(每个部分重复)
  ……
TSR × 程序中每个测试 N 个概要
HBR × 每个硬件箱 N 个
SBR × 每个软件箱 N 个
PCR                         part-count totals
MRR                         全球批次结果(最后记录)

仅摘要(无每个部件的数据记录)

与上面相同,但带有整体 PIR…PRR 方块被移除——只有远距离、中远距离,然后 TSR/HBR/SBR/PCR 摘要和 MRR。

晶圆探针上有很多

FAR · MIR · WCR              晶圆尺寸和方向
  WIR                       ┐ 第一个晶圆开始
    PIR · PTR/MPR/FTR · PRR │晶圆上的每个芯片
    … │
  WRR                       ┘ 第一晶圆总结
  WIR … WRR(对每个晶圆重复)
TSR…… HBR…… SBR…… PCR…… MRR    批次摘要+最终记录

A wafer-map-only 文件相同但仅存储 PIR/PRR 每个骰子(无 PTR/MPR/FTR),仅保留绘制地图所需的内容。

Parallel testing

通过多个头和站点,不同模具的记录交错:首先打开多个 PIR, 测试运行时,测试仪会发出由 head+site 标记的 PTR/MPR/FTR 记录,并且会显示每个芯片的 PRR 一旦 that 模具完成(不一定按开始顺序)。每个晶圆的WRR都被写入 一旦该头的所有芯片都完成,并且 PCR 块包括每个头/位点一个 PCR 加上一个 摘要 PCR 与 HEAD_NUM = 255.

Numbers & display

10. 比例、单位和限制

在 PTR/MPR 内 RESULT、限制和规格均已存储 标准化为 基本单位 named in UNITS. That means UNITS 总是一个 整个单位——“AMPS”,而不是“uAMPS”——你可以直接对任何其单位的值进行算术运算 同意。

For display,使用了两个额外的部分:缩放指数和 ANSI-C 格式字符串。 这 _SCAL 值是比例因子的 10 次幂,也选择 SI 前缀:

_SCALPrefixMeaningMagnitude
15ffemto10⁻1⁵
12ppico10⁻12
9nnano10⁻⁹
6umicro10⁻⁶
3mmilli10⁻³
2%percent10⁻²
0—base10⁰
-3KKilo10立方
-6MMega10⁶
-9GGiga10⁹
-12TTera10^2

缩放后的值很简单 value × 10^_SCAL。例如,要存储“123.45 uAMPS”:

  • RESULT = 123.45 × 10⁻⁶
  • RES_SCAL = 6(“微”的代码)
  • C_RESFMT = %7.2f
  • UNITS = AMPS

要显示它:乘以 10⁶,使用两位小数格式化,在前面加上“u”前缀,然后附加 单位 → 123.45 uAMPS.

功能测试解码

11. 使用引脚映射记录

当测试设备时,之间存在映射 device pins and tester channels。三种记录类型描述它,FTR/MPR记录参考 按索引排列:

  • PMR(引脚映射记录) — 定义一个通道↔引脚关联并给它一个 独特的 PMR index (1–32,767)。每个通道都有一个类型和名称;每个引脚都有一个物理 和一个逻辑名称;头部和部位也被记录下来。
  • PGR(引脚组记录) — 命名一组引脚(例如“地址总线”)并列出 其中的 PMR 索引及其自己的组索引 (32,768–65,535)。
  • PLR(引脚列表记录) — 对于引脚/组列表,定义显示基数 (二进制、八进制、十进制、十六进制、符号)、操作模式(正常、双驱动、SCIO…)以及 用于呈现编程和返回状态的 ASCII 字符。

当软件解码功能结果时,它会读取 FTR/MPR 中的 PMR 索引数组来了解 哪些引脚具有哪些值,使用 PMR 获取引脚的物理/逻辑/通道名称 及其头/站点,使用 PGR 查看引脚属于哪个组,并使用 PLR 进行渲染 工程师认可该测试仪和设备的形式的状态。

Beyond pass/fail

12. 存储维修信息

STDF 还可以携带内存、PC 板和其他部件的修复数据,并在 测试和修复过程。每个部件的维修信息位于 PART_FIX PRR 字段。它是特定于应用程序的——位编码、整数、浮点、 或文本 - 第一个字节给出后面的字节数,因此只能通过以下方式解码 匹配分析程序。最小的修复文件可以完全删除每次测试的记录,并且 保持公正 FAR · MIR · (WIR ·) PRR… · PCR · MRR.

Conventions

13.STDF 文件名

规范建议使用以下形式的文件名 filename.STD[string] where:

  • filename 是 1–39 个字符 A–Z a–z 0–9 _,以字母开头。
  • 扩展名开始于 .STD 并且,在区分大小写的系统上,最好写成小写(.std).
  • the dollar sign $ is no longer 允许(它在某些操作系统上引起问题)。
  • 仅使用单个句点,并保持扩展名较短 - 软件可以向其附加字符以指示处理状态。

好的文件名在整个系统中是唯一的,暗示其内容和生成时间,并且可以跨各种操作系统工作。

Version history

14. STDF V3 和 V4 的区别

STDF 于 1985 年推出,并发展成为事实上的行业标准。收集了差不多之后 Teradyne 发布了来自客户和其他 ATE 供应商的一百个请求 Version 4, 今天使用的版本。最大的变化:

  • 四项必要记录 (V3 仅需要 MIR 和 MRR):FAR、MIR、PCR、MRR — 文件现在必须以 FAR 开头。
  • New records: ATR、PCR、PGR、PLR、RDR、SDR 和 MPR。
  • Dropped records: 描述记录 PDR 和 FDR(它们的半静态信息现在位于每个测试的第一个 PTR/FTR 中),以及所有特定于站点的记录 SHB、SSB、STS、SCR(它们的功能现在由 HBR、SBR、TSR 和 PCR 中的头/站点字段处理)。
  • Part counts moved 从 MRR 进入新的 PCR; CPU_TYPE and STDF_VER 现在只住在FAR。
  • 重新设计了引脚映射: V3 PMR(也可以定义组)被分为 PMR + PGR + PLR。
  • 显示领域现代化: 旧的数字计数字段已替换为 ANSI-C 格式字符串(C_RESFMT 等)和规格限制(LO_SPEC/HI_SPEC)被添加到 PTR/MPR 中。
  • New data types D*n and N*1 被添加并且 B*n 位顺序得到了澄清。
  • 未更改记录: BPS、EPS、GDR 和 DTR。
Terminology

15. Glossary

TermMeaning
Aborted part测试已开始但未完成的部件(例如操作员中断了它)。
Datalog具体测试信息的列表 - 测试结果和参数值。
Die晶圆内的单个半导体器件。
Functional part测试时不属于灾难性故障箱(通常为箱 0)的任何部件。保存在FUNC_CNT中。
Good part放置在可接受使用/销售的垃圾箱中的任何部件。保存在GOOD_CNT中;需要产量。
Hardware bin设备处理程序上的物理分类类别,用于对测试设备进行分级。
Software bin在测试程序中定义的逻辑排序类别,用于比硬件箱更精细的分类。
Insertion一次测试一批零件的行为(一批零件可能在不同条件下测试多次)。
工作计划/测试计划/测试计划旨在测试特定设备的程序语句集。
Lot一批零件(通常是整个生产运行)作为一个整体进行测试;可以分为子地块。
Lot disposition关于批次未来的决定(例如产量太低而无法包装)。
Retested part在一次插入过程中多次测试零件,通常是因为第一次检测到问题。
Sequencer测试程序的“目录”——测试的有序列表及其限制和分级。
准备/开始/结束时间当设置开始时/当第一个部分开始测试时/当最后一个部分完成时。
Tester能够将好零件与坏零件分开(通常是分级)的机器。
Test head用于测试一台或多台设备的硬件;在并行测试仪上,它控制多个站点。
Test site测试单个设备所需的硬件连接;一个头可能有多个站点。
Test station一种逻辑软件实体,加载并运行与一个或多个头关联的单个测试计划。
Wafer高纯度半导体材料圆盘;构建 IC 的基板,然后通过 ATE 进行探测。
Put STDF to work

使用 DLOG 轻松分析 STDF

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