SEMICONDUCTOR TEST DATA ANALYSIS

복잡한 테스트 데이터의
핵심(Kernel)을 쉽게(Easy) 다룹니다.

EasyKernel Software는 반도체 테스트(STDF) 데이터를 빠르고 정확하게 분석하는
데스크톱 소프트웨어 DLOG를 개발합니다.

DLOG 알아보기

PRODUCT

DLOG

Data-log Logic Optimized Graph — 대용량 STDF 데이터를 열고, 보고, 분석하는 하나의 툴.

빠른 STDF 분석

대용량 STDF 파일을 열어 항목별 통계·수율·Bin 분포를 즉시 확인할 수 있습니다.

웨이퍼 맵 시각화

2D/3D 웨이퍼 맵으로 다이별 측정값과 합부 결과를 한눈에 파악합니다.

리포트 자동 생성

요약, 항목별 통계, 웨이퍼 맵이 포함된 PDF 리포트를 즉시 만들어냅니다.

ABOUT

EasyKernel Software

우리는 복잡한 문제의 핵심(Kernel)만 남기고 나머지는 쉽게(Easy) 만듭니다.
반도체 테스트 엔지니어가 데이터와 씨름하는 대신 통찰에 집중할 수 있도록,
정확하고 빠른 분석 도구를 만듭니다.

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제품 문의, 데모 요청은 아래 이메일로 연락 주세요.

contact@easykernelsoftware.com